1.邊界距離如果探頭與被測物體邊界、孔眼、腔體等截面的距離小于規(guī)定的邊界間隙，測量誤差將由磁通量不足或渦流載體截面引起。如果此時需要測量涂層厚度，則只能在相同條件下，在未涂層表面上預先校準來測量。

　　2.將基板表面曲率校準到直線對比樣品上的初始值，然后測量涂層厚度后減去初始值。

　　3.基底金屬的小厚度基底金屬必須具有給定的小厚度，以便探針的電磁場可以*包含在基底金屬中。小厚度與測量設(shè)備的性能和金屬基底的特性有關(guān)。不校正測量值進行測量。對于基底厚度不足的影響，可以采取措施將一塊相同的材料緊緊地粘附在基底下面以消除它。如果很難或不可能添加基底，可以通過與已知涂層厚度的樣品進行比較來確定與額定值的差異。并在測量中考慮到這一點，相應地修正測量值或參考第2條進行修正。那些可以校準的儀器可以通過調(diào)節(jié)旋鈕或按鈕獲得準確的直讀厚度值。相反如上所述通過利用過小厚度的影響，可以開發(fā)用于直接測量銅箔厚度的測厚儀。

　　4.表面粗糙度和表面清潔度為了獲得粗糙表面的代表性平均測量值，需要進行多次測量。顯然，基底或涂層越粗糙，測量的可靠性就越差。為了獲得可靠的數(shù)據(jù)，基底的平均粗糙度Ra應小于涂層厚度的5%。應清除表面雜質(zhì)。一些工具有上限和下限來消除這些飛點。

　　5.涂層材料中的鐵磁和導電成分涂層中某些鐵磁成分(如顏料)的存在會影響測量值。在這種情況下，用于校準的對比樣品涂層應具有與測試對象涂層相同的電磁特性，并應在校準后使用。所使用的方法可以是在鋁板或銅板樣品上涂覆相同的涂層，并在渦流試驗后獲得對比標準樣品。