X射線鍍層測厚儀

X射線鍍層測厚儀可檢測電子電鍍層厚度,可測單鍍層,雙鍍層,及多鍍層。

單層:如各種底材上鍍鎳,鍍鋅,鍍銅,鍍銀,鍍錫,鍍金等

雙層:如銅上鍍鎳再鍍金,銅上鍍鎳再鍍銀,鐵上鍍銅再鍍鎳等

多層:如ABS上鍍銅鍍鎳再鍍鉻,鐵上鍍銅鍍鎳再鍍金等?

合金鍍層：鐵上鍍鋅鎳,銅上鍍鎳磷等

XRF-2020測試范圍

金：0.03-6um

鈀：0.03-6um

鎳：0.5-30um

錫：0.3-50um

銀：0.1-50um

鉻：0.5-30um

鋅：0.5-30um

鋅鎳合金：0.5-30um

韓國先鋒XRF-2020X射線鍍層測厚儀精度

首層：±5%以內(nèi)

第二層：±10%以內(nèi)

第三層：±15%以內(nèi)

韓國微先鋒MicopioneerXRF-2020

L型XRF-2020鍍層測厚儀:測量樣品高3cm內(nèi),

H型XRF-2020鍍層測厚儀型容納樣品10cm,長寬均為55cm

X射線鍍層測厚儀:-X射線或粒子射線經(jīng)物質(zhì)照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)，此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來，而此時是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測量儀或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強度，來進行定性和定量分析