銅上鍍錫測厚儀X-RAY膜厚儀:檢測范圍0.5-50um
一、儀器功能：
檢測電子電鍍,五金電鍍,LED支架,端子連接器,半導(dǎo)體等電鍍層厚度。
二、銅上鍍錫測厚儀測試范圍:
（1）鍍金：0.02-6um
（2）鍍鈀：0.03-6um
（3）鍍鎳：0.5-30um
（4）鍍錫：0.3-50um
（5）鍍銀：0.1-50um
（6）鍍鉻：0.5-30um
（7）鍍鋅：0.5-30um
（8）鍍鋅鎳合金：0.5-30u
可測試單鍍層，雙鍍層，多鍍層及合金鍍層厚度
單層:如各種底材上鍍鎳,鍍鋅,鍍銅,鍍銀,鍍錫,鍍金等
雙層:如銅上鍍鎳再鍍金,銅上鍍鎳再鍍銀,鐵上鍍銅再鍍鎳等
多層:如ABS上鍍銅鍍鎳再鍍鉻,鐵上鍍銅鍍鎳再鍍金等合金鍍層：
鐵上鍍鋅鎳,銅上鍍鎳磷等
韓國MicroPioneerXRF-2000測厚儀
原產(chǎn)地：韓國
品牌：Micropioneer微先鋒
型號：XRF-2000已升級為XRF-2020
可測單鍍層，雙鍍層，多鍍層，合金鍍層等，不限底材。
如單鍍層銅上鍍銀，銅上鍍鎳，銅上鍍鋅，銅上鍍錫，鐵上鍍鎳等
雙鍍層如銅上鍍鎳鍍金，鐵上鍍銅鍍鎳，銅上鍍鎳鍍銀等，不限底材
多鍍層如：ABS上鍍銅鍍鎳鍍鉻，鐵上鍍銅鍍鎳鍍金等，不限底材
合金鍍層如：鐵上鍍鋅鎳等。不限底材
韓國MicropioneerXRF-2000測厚儀型號：
XRF-2020H型:測量樣品高度不超過12cm
XRF-2020L型:測量樣品高度不超過3cm
XRF-2020PCB型:測量樣品高度不超3cm
三款機(jī)型均為全自動臺面，自動雷射對焦。
銅上鍍錫X-RAY膜厚測量儀
儀器可測單鍍層,雙鍍層,多鍍層及合金鍍層，不限底材
銅上鍍錫X射線測厚儀:檢測范圍0.5-50um
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