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X-RAY膜厚測試儀韓國先鋒XRF-2020L型

更新時間:2022-02-24

簡要描述:

X-RAY膜厚測試儀韓國先鋒XRF-2020L型
韓國微先鋒
型號:XRF-2020
功能:
檢測電子電鍍,五金電鍍,LED支架,端子連接器,半導體等電鍍層厚度
測量鍍金,鍍銀,鍍鎳,鍍鋅,鍍錫,鍍銅等
可測單鍍層,雙鍍層,多鍍層,合金鍍層,不限基材。
XRF-2020測厚儀韓國微先鋒操作流程

X-RAY膜厚測試儀韓國先鋒XRF-2020L型


功能:測量電鍍鍍層厚度


檢測電子電鍍,五金電鍍,LED支架,端子連接器,半導體等電鍍層厚度

測量鍍金,鍍銀,鍍鎳,鍍鋅,鍍錫,鍍銅等

可測單鍍層,雙鍍層,多鍍層,合金鍍層,不限基材。


型號:XRF-2020

產(chǎn)地:韓國

儀器全自臺,自動雷對焦



微先鋒操作流程


1. 儀器及附件均處開機狀態(tài)(電腦,顯示器)

2. 在程序庫中選中與產(chǎn)品對應(yīng)的曲線(產(chǎn)品需與曲線一致)

3.  打開儀器前蓋,臺面自動伸出

4.  將樣品放入儀器臺面,測量大致位置對準儀器紅外對焦點

5.  關(guān)閉儀器前蓋,儀器臺面自動歸位

6.  在顯示器屏幕中用鼠標控制儀器臺面微調(diào),精確對準測試位置

7.  點擊SART測試:

8.  測試過程中X-RAY指示燈亮紅,此時嚴禁打開儀器前蓋。

9.  測試時間15秒主窗口及數(shù)據(jù)表中顯示測試產(chǎn)品厚度

10. X-RAY指示燈熄滅,打開儀器前蓋,臺面自動伸出

11. 取出樣品,完成測試


功能及原理:

X射線或粒子射線經(jīng)物質(zhì)照射后

由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)

從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)

此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來,而此時是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來。

熒光X射線鍍層厚度測量儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強度

來進行鍍層厚度的測量及分析.


XRF-2020鍍層測厚儀

測量鍍金,鍍銀,鍍鎳,鍍錫,鍍銅,鍍鉻,鍍鋅,鍍鈀,鍍鋅鎳合金等

可測單鍍層,雙鍍層,多鍍層,合金鍍層,不限基材

 

XRF-2020系列型號

 

H:  容納樣品長55cm  55cm  10cm (訂制可加高至20cm

L:  容納樣品長55cm  55cm  3cm

PCB: 開放式設(shè)計,可測大型樣品

 

XRF-2020可測六層:

誤差大約:

第一層±5%內(nèi):第二層±10%內(nèi):第三層±15%內(nèi)

 

XRF-2020部份測量范圍:

:0.03-6um          :0.3-30um

:0.03-6um          :0.3-30um

:0.3-50um          :0.1-50um

:0.5-25um          : 0.5-30um

鋅鎳合金: 0.5-25um

化學鎳: 0.5-25um


X-RAY膜厚測試儀韓國先鋒XRF-2020L型

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